XRD ANALİZLERİ

X-Işını Kırınımı (XRD) yöntemi, her bir kristalin fazın kendine özgü atomik dizilimlerine bağlı olarak, X-ışınlarını karakteristik bir düzen içerisinde kırması esasına dayanmaktadır. Her bir kristalin faz için bu kırınım profilleri bir nevi parmak izi gibi o kristali tanımlamaktadır. X-Işını Kırınım analiz metodu, analiz sırasında numuneyi tahrip etmez ve çok az miktardaki numunelerin dahi analizlerinin yapılmasını sağlar.

Enstitümüz bünyesindeki cihazda X-ışını kaynağı olarak bakır (Cu, 1,54 Å) ve kobalt (Co, 1,79 Å) kullanılmakta olup toz, katı parça, ince film ve stres ölçümleri gerçekleştirilebilmektedir. Cihazda, sahip olduğu donanım sayesinde programlama yapılabilmekte ve 30 numune art arda analiz edilebilmektedir. Analizi yapılacak numuneler toz halinde ise ince şekilde öğütülerek gönderilmelidir. Numuneler, alındığı yeri (sahayı) ve/veya amaçlanan çalışmayı en iyi temsil edebilecek şekilde seçilmelidir. Analiz için numunenin sahip olması gereken özellikler aşağıdaki tabloda verilmiştir.

Cihaz Marka/Model

Analizi Yapılabilen Numuneler

Analiz Gereklilikleri

Analiz Ücreti

Hizmet Süresi (İş Günü)*

İletişim Bilgileri

PANalytical/Empyrean

Toz

Katı parça

İnce film

Toz numune için

en az 10 g (fazla miktarda temini bulunmayan numuneler için en az 100-150 mg)

Katı parça için

2*2*0,5 cm (en*boy*yükseklik), min.

5*3*1 cm (en*boy*yükseklik), max.

İnce film için

1*1 cm

XRD Difraktogram Çekimi (Cu Kα): 600,00 TL/numune

XRD Difraktogram Çekimi (Co Kα): 670,00 TL/numune

X-Işını Kırınımı Yöntemi ile Standart Kalitatif Analiz (Cu Kα): 1.100,00 TL/numune

X-Işını Kırınımı Yöntemi ile Standart Kalitatif Analiz (Co Kα): 850,00 TL/numune

İnce Film Analizi: 1.200,00 TL/numune

7 gün

e-posta: Bu e-Posta adresi istenmeyen posta engelleyicileri tarafından korunuyor. Görüntülemek için JavaScript etkinleştirilmelidir.

Tel: 0 (312) 201 36 72