XPS ANALİZLERİ

X-ışını Fotoelektron Spektrometresi (XPS) ile hem toz hem de katı numunelere elementel analiz işlemleri gerçekleştirilebilmektedir. Analizler 3 farklı başlık altında yapılmaktadır: Genel Tarama, Özel Tarama ve Derinlik Profili. Yapılacak analiz türünün/türlerinin belirtilmesi gerekmektedir. Numune yüzeyine argon ile etch işlemi isteniliyor veya istenilmiyor ise özellikle belirtilmesi gerekmektedir.

Analiz süresince vakum değerleri her numune için benzer değerlerde tutulur ve isteğe özel olarak değiştirilemez. Bu nedenle vakum altında süblimleşme gibi özelliklere sahip numuneler belirtilmelidir. Jel veya sıvı numunelerin analizleri yapılamamaktadır. Sistem için uygun görülmeyen numunelerin testleri yapılamamaktadır. Numunelere ait minimum miktar aşağıda tabloda verilmiştir.

Numune içeriği tarafımıza bildirilmesi gerekmektedir. Özellikle özel tarama ve derinlik profili talep edilen numuneler için içeriklerinin elementel olarak belirtilmesi gerekmektedir.

Test raporunda; ilgili grafikler ve grafiklerin çizdirilmesi için ihtiyaç duyulan veriler paylaşılmaktadır. Veriler excel dosyası üzerinden tarafınıza iletilmektedir. Ham verilere ihtiyaç duymanız halinde ayrıca belirtiniz.

Cihaz Marka/Model

Numune Miktarı/Boyutları

Çalışma Koşulları

Etch Prosesi

Analiz ücreti

Hizmet Süresi (İş Günü)*

İletişim Bilgileri

Thermo Scientific/ K-Alpha

Toz numuneler için minimum;

XPS Yüzey analizi için: 5 g

XPS Derinlik Profili için: 5 g

Parça numuneler için maksimum;

4x4 cm boyutlar

3 mm kalınlık

Yüksek vakum altında

Argon ile etching işlemi yapılmaktadır.

Genel Tarama için: 1.600,00 TL / numune

Özel Tarama için: 1.875,00 TL / numune

Derinlik Profili için (Derinliğe bağlı çok katmanlı tarama): 420,00 TL / numune

5 gün

e-posta: Bu e-Posta adresi istenmeyen posta engelleyicileri tarafından korunuyor. Görüntülemek için JavaScript etkinleştirilmelidir.

Tel: 0 (312) 201 36 72

Fax: 0 (312) 219 80 55